Верификация и тестирование

  • Лабороторное тестирование и измерение параметров ИС с использованием современного измерительного оборудования, в т.ч. комплексов PXI от National Instruments. Нашими инженерами накоплен опыт разработки методик и аппаратного обеспечения для измерений широкого спектра параметров и характеристик как аналоговых, так и цифровых блоков. Имеющееся оборудование позволяет проводить тестирование в широком диапазоне температур от -60 до +200 градусов с точностью до 1 градуса.
  • Подготовка промышленного тестирования микросхем на современных тест-машинах различных мировых производителей (LTX MX, Advantest T2000), включающая разработку тестовых плат и тест-программ, отвечающих жестким стандартам надежности применяемым к электронным блокам для автомобильной промышленности.
  • Разработка стандартных библиотек для тест-программ использующихся во множестве действующих проектов. Нами созданы универсальные библиотеки для тестирования различных видов памяти (FLASH, EEPROM, OTP), ADC, а так же библиотеки для работы с тестовыми интерфейсами и множество других. Все стандартные библиотеки тщательно отлаживаются, тестируются и документируются, что позволяет значительно сократить время разработки использующих их проектов.
  • Разработка программных средств для анализа и статистической обработки результатов измерений. Специализированные утилиты позволяют обрабатывать большие объемы тестовых данных полученных в результате промышленного тестирования микросхем на производстве.
  • Поддержка клиентов во внедрении новых продуктов, в т.ч. создание демонстрационных плат, подготовка средств отладки, написание прошивок для интегрированных контроллеров.